EN BREVE

03.12.2024

México al frente del Sistema Interamericano de Metrología

L.P.C. Julieta Espinosa

Fotografía: CENAM 2024
L.P.C. Julieta Espinosa

Durante 2024, el Centro Nacional de Metrología (CENAM) viene celebrando el 30 aniversario de su inauguración, mediante la realización de diálogos sectoriales y otras actividades conmemorativas, que han ratificado su misión de ser «la institución del Estado mexicano líder en la ciencia de las mediciones, que contribuye al bienestar de la población y al desarrollo económico incluyente».

 

Es en este contexto que el 22 de noviembre pasado, durante la Semana del Sistema Interamericano de Metrología (SIM WEEK 20204), fue electo como presidente del organismo interamericano el M. en C. Arquímedes Ruíz Orozco, director general del CENAM, quien cuenta con más de 29 años de experiencia en el Centro.

 

El Sistema Interamericano del Metrología (SIM), a 45 años de su creación, está formado por 33 miembros activos, 14 asociados y cuatro afiliados; todos ellos comprometidos a «promover y apoyar una infraestructura integrada de medición en las Américas, que permita a cada uno de los institutos nacionales de metrología miembros estimular la innovación, la competitividad, el comercio, la seguridad del consumidor y el desarrollo sostenible, mediante la participación efectiva de la comunidad internacional de metrología».

 

La elección, de acuerdo con los estatutos del SIM, fue requerida por una comisión electoral que, a su vez, convocó a los delegados de la Asamblea General para realizar la votación. De tal forma, el M. en C. Arquímedes Ruiz Orozco, electo por un período de seis años, presidirá al Consejo General, compuesto por once miembros, de la siguiente manera: durante 2025 ocupará la vicepresidencia del SIM, de 2026 a 2028 fungirá como director del organismo y de 2028 a 2030 nuevamente asumirá la vicepresidencia.

 

Con este nombramiento, el M. en C. Ruíz Orozco se convierte en el segundo mexicano en ocupar el cargo, después de que el Dr. Héctor Octavio Nava Jaimes, exdirector del CENAM, lo hiciera entre 1995 y 1998.

 

Egresado del Instituto Politécnico Nacional y posgraduado del Centro de Investigaciones en Óptica, el M. en C. Ruiz Orozco tendrá entre sus responsabilidades el representar al SIM ante los foros nacionales e internacionales, así como ante el comité conjunto de las organizaciones regionales de metrología y el Buró Internacional de Pesas y Medidas (BIPM, por sus siglas en francés).

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